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當前位置：首頁 >產(chǎn)品中心>合金分析儀>金屬合金分析儀>VEL光譜儀 鍍層厚度無損分析 金屬材質(zhì)分析儀
簡要描述：光譜儀 鍍層厚度無損分析 金屬材質(zhì)分析儀Vanta分析儀是我們提供的高級手持式X射線熒光（XRF）設備，可以滿足用戶在野外環(huán)境獲得實驗室水平分析結果的要求。 它可以進行快速、準確的元素分析和合金辨別，實現(xiàn)高通量的XRF檢測。
產(chǎn)品型號：VEL廠商性質(zhì)：代理商 更新時間：2024-07-30訪 問 量：664 產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | OLYMPUS/奧林巴斯 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 10萬-30萬 | 儀器種類 | 手持式/便攜式 |
| 應用領域 | 環(huán)保,化工,地礦,建材,電子 |
Vanta分析儀是我們提供的高級手持式X射線熒光（XRF）設備，可以滿足用戶在野外環(huán)境獲得實驗室水平分析結果的要求。 它可以進行快速、準確的元素分析和合金辨別，實現(xiàn)高通量的XRF檢測。
Vanta手持式XRF分析儀的構造堅固。其機身設計結實耐用，可在具有挑戰(zhàn)性的工業(yè)環(huán)境中避免受到損傷，因而可以正常工作更長時間，并降低用戶的擁有成本。
Vanta XRF系列分析儀的用戶界面簡單直觀，軟件可自行定制，您只需接受基礎培訓，即可輕松使用分析儀，獲得高通量，并迅速獲得投資回報。Vanta分析儀采用專有的創(chuàng)新型Axon技術，無論檢測環(huán)境或工作條件如何，都可以為您提供準確的結果，并有助于提高生產(chǎn)率。
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